[发明专利]有源天线系统的近场测量有效

专利信息
申请号: 201610055191.0 申请日: 2016-01-27
公开(公告)号: CN105826683B 公开(公告)日: 2020-07-21
发明(设计)人: K-A·施泰因豪泽;S·弗里策 申请(专利权)人: 凯瑟雷恩欧洲股份公司
主分类号: H01Q3/22 分类号: H01Q3/22;G01R29/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 闫娜
地址: 德国罗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于确定通过所述有源天线接收到的信号的数值和相位的方法和测量装置。从下面的方法步骤的组中:ST1:通过所述至少一个发射天线唯一地发出发射信号,并且检测通过所述有源天线接收到的发射信号的功率值;ST2:通过所述参考天线唯一地发出发射信号,并且检测通过所述有源天线接收到的发射信号的功率值;ST3:经由所述至少一个发射天线和参考天线同时发出发射信号以产生叠加的发射信号,并且检测通过所述有源天线接收到的叠加的发射信号的功率值;至少三个方法步骤的序列以任意顺序并且以任意组合、也以多次实施至少一个方法步骤的方式实施,其中,所述至少三个方法步骤的序列始终包括至少一次方法步骤ST3。
搜索关键词: 有源 天线 系统 近场 测量
【主权项】:
一种用于确定通过有源天线(3)接收到的信号的功率值以便因此能够确定数值和相位的方法,具有下述方法步骤:‑使用至少一个发射天线(6)和参考天线(2),其中,所述参考天线(2)相对于所述有源天线(3)以预设的位置和预设的间距设置;‑使用信号发生器(7)以产生发射信号,其中,所述信号发生器(7)与所述至少一个发射天线(6)和参考天线(2)连接;其中,从下面的方法步骤(ST1、ST2、ST3)的组中:ST1:通过所述至少一个发射天线(6)唯一地发出(S1)发射信号,并且检测(S1_1)通过所述有源天线(3)接收到的发射信号的功率值;ST2:通过所述参考天线(2)唯一地发出(S2)发射信号,并且检测(S2_1)通过所述有源天线(3)接收到的发射信号的功率值;ST3:经由所述至少一个发射天线(6)和参考天线(2)同时发出(S3)发射信号以产生叠加的发射信号,并且检测(S3_1)通过所述有源天线(3)接收到的叠加的发射信号的功率值;至少三个方法步骤(ST1、ST2、ST3)的序列以任意顺序并且以任意组合、也以多次实施至少一个方法步骤(ST1、ST2、ST3)的方式实施,其中,所述至少三个方法步骤(ST1、ST2、ST3)的序列始终包括至少一次方法步骤ST3。
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