[发明专利]一种具有单比特频数检测和块内频数检测的快速检测方法

摘要

本发明提供一种具有单比特频数检测和块内频数检测的快速检测方法，该方法包括开关1、开关2、拆分子序列模块、查表统计各子序列中1的个数模块、计算统计量模块、比较统计量模块；其中计算统计量模块又分为计算累加和S_n子模块和计算统计量V子模块；比较统计量模块又分为比较累加和S_n与阈值子模块和比较统计量V与阈值子模块。本发明相比于现有技术，巧妙地结合单比特频数检测和块内频数检测，具有检查效率高、占用存储空间小、模块可重用等优点；该检测系统经过简单的配置后可以变更为只进行单比特频数检测的比特检测模式、只进行块内频数检测的块检测模式以及同时进行单比特频数检测和块内频数检测的双检测模式。

主权项

一种具有单比特频数检测和块内频数检测的快速检测方法，其特征在于，该方法包括步骤：(1)将n比特待检序列按比特长度2m划分为N/2个非重叠的子序列对，每个子序列对包含2个比特长度为m的子序列；(2)对所有子序列对，利用查表法得出其中的两个子序列分别包含的比特1个数；(3)计算特定统计量，步骤如下：(3.1)若需要进行单比特频数检测，则对所有子序列累加比特1的个数得到S₁，并计算单比特频数检测的统计量累加和|S_n|＝|n‑2S₁|；(3.2)若需要进行块内频数检测，则对每个子序列计算其中比特1的个数与均值m/2之差的平方值，并将这些平方值累加得到S₂，然后计算块内频数检测的统计量V＝4S₂/m；(4)比较特定统计量，步骤如下：(4.1)若需要进行单比特频数检测，则利用累加和判断|S_n|≤s是否成立，s为利用事先计算出来的|S_n|的阈值，如|S_n|≤s成立则认为待检序列为通过单比特频数检测；(4.2)若需要进行块内频数检测，则利用统计量V判断V≤v是否成立，v为利用‑igamc(N/2,V/2)≥α事先计算出来的V的阈值，如果V≤v成立则认为待检序列为通过块内频数检测。