[发明专利]用于带材缺陷检测快速确定精准成像方案的系统有效
| 申请号： | 201610013169.X | 申请日： | 2016-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN106959292A | 公开（公告）日： | 2017-07-18 |
| 发明（设计）人： | 梁爽;何永辉;杨水山;石桂芬;宗德祥;彭铁根 | 申请（专利权）人： | 宝山钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海集信知识产权代理有限公司31254 | 代理人： | 肖祎 |
| 地址： | 201900 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于带材缺陷检测快速确定精准成像方案的系统，包括精准计算分辨率测试模块，复合成像系统模块，标定系统模块，成像参数计算及方案确定模块。精准计算分辨率测试模块测量被测样本的缺陷尺寸，并且确定成像分辨率。标定系统模块执行成像前的快速聚焦，定位聚焦位置，标定相机光源并确定相机成像距离。复合成像系统模块对运动样本的缺陷进行成像，并根据不同的光源角度完成明场，暗场，过渡场及侧光的成像。成像参数计算及方案确定模块预估并计算成像分辨率，对相机选型，依据成像分辨率及成像角度计算成像距离、标定计算、图像处理及最终成像方案的输出。本发明自动化程度高，计算精准，快速标定，快速测设，大大提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 缺陷 检测 快速 确定 精准 成像 方案 系统 | ||
【主权项】：
一种用于带材缺陷检测快速确定精准成像方案的系统，其特征在于，包括：精准计算分辨率测试模块，复合成像系统模块，标定系统模块，成像参数计算及方案确定模块；所述精准计算分辨率测试模块测量被测样本的缺陷尺寸，并且确定成像分辨率；所述标定系统模块执行成像前的快速聚焦，定位聚焦位置，标定相机光源并确定相机成像距离；所述复合成像系统模块对运动样本的缺陷进行成像，并根据不同的光源角度完成明场，暗场，过渡场及侧光的成像；所述成像参数计算及方案确定模块预估并计算成像分辨率，对相机选型，依据成像分辨率及成像角度计算成像距离、标定计算、图像处理及最终成像方案的输出。
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