[发明专利]原位量子错误校正有效
| 申请号: | 201580085604.3 | 申请日: | 2015-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN108885720B | 公开(公告)日: | 2022-04-15 |
| 发明(设计)人: | J.S.凯利 | 申请(专利权)人: | 谷歌有限责任公司 |
| 主分类号: | G06N10/70 | 分类号: | G06N10/70;G06N10/40 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邵亚丽 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 通过闭环反馈并行优化连续运行的量子错误校正的方法、系统和装置。在一个方面,一种方法包括:在量子系统上的错误校正操作正在运行的同时,原位连续地且有效地优化量子位性能。该方法直接监视来自错误检测的输出,并提供该信息作为反馈来校准与量子系统相关联的量子门。在一些实现方式中,物理量子位在空间上被分割为一个或多个独立的硬件模式,其中可归因于每个硬件模式的错误是不重叠的。随后暂时交错硬件模式的一个或多个不同集合,使得所有物理量子位和操作被优化。该方法允许单独并且并行地执行硬件模式的每个部分的优化,并且可以导致O(1)缩放。 | ||
| 搜索关键词: | 原位 量子 错误 校正 | ||
【主权项】:
1.一种装置,包括与测量量子位数据通信的错误校正子系统,并且被配置为:将数据量子位和测量量子位分割成多个模式,其中至少一个模式经受模式的非重叠错误,其中模式的非重叠错误是可归因于所述模式的错误;对于包括测量量子位的每个模式:并行优化对测量量子位操作的读出量子门的参数;以及并行优化对测量量子位操作的单个量子位量子门的参数;对于包括由CNOT门操作的数据量子位和测量量子位的每个模式:并行优化对数据量子位操作的单个量子位量子门的参数;以及选择定义相同方向的CNOT门集合并且并行优化所选择的CNOT门的参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于谷歌有限责任公司,未经谷歌有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580085604.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。





