[发明专利]X射线发生装置有效

专利信息
申请号: 201580075523.5 申请日: 2015-02-05
公开(公告)号: CN107210079B 公开(公告)日: 2020-03-20
发明(设计)人: 宫冈明宽 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G21K5/02 分类号: G21K5/02;G21K5/00;G21K5/08
代理公司: 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 代理人: 肖华
地址: 日本国京都府京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了能够不根据针对靶材的电子束的焦点直径而可靠地减小X射线焦点直径的X射线发生装置。在由靶材(2)和X射线照射窗(1)构成的靶材层叠结构体(3)的电子束(B)的照射区域内,设置有朝向电子束(B)的照射方向的X射线吸收率局部地低的X射线低吸收率部位(3a),由此抑制通过将电子束(B)照射到靶材(2)上而产生的X射线中的、来自X射线低吸收率部位(3a)以外的部位的X射线向外部辐射,并与电子束(B)的照射区域的大小无关地获得与X射线低吸收率部位(3a)的大小相应的大小的X射线焦点。
搜索关键词: 射线 发生 装置
【主权项】:
一种X射线发生装置,其将通过对在真空容器内配置的靶材照射电子束而产生的X射线经由一体地层叠形成有所述靶材的X射线照射窗沿着电子束的照射方向取出至外部,所述X射线发生装置的特征在于,在由所述靶材与所述X射线照射窗构成的靶材层叠结构体的所述电子束的照射区域内,形成有朝向该电子束的照射方向的X射线吸收率局部地低的X射线低吸收率部位。
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