[发明专利]使用B1图校正磁共振图像的强度的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201580071763.8 申请日: 2015-12-17
公开(公告)号: CN107110947B 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: D.桂;X.赵;Z.张;H.沈;S.贾尼尔 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01R33/565 分类号: G01R33/565;G01R33/24;G01R33/387;G01R33/48
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郑浩;刘春元
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 与限定目标体积的磁体组合件操作地连接的控制器;以及图像处理器,图像处理器配置成从控制器获得校准数据;基于校准数据,绘制从磁体组合件到目标体积的B1传送强度;至少基于B1传送强度的图和基于脉冲序列参数,计算B1传送阴影校正;从基于脉冲序列参数操作磁体组合件的控制器,获得在目标体积内成像受试者的k空间数据;从k空间数据形成MR图像;以及应用B1传送阴影校正到MR图像。
搜索关键词: 使用 b1 校正 磁共振 图像 强度 方法 设备
【主权项】:
一种方法,包括:绘制从RF线圈到目标体积的B1传送强度;至少基于绘制的B1传送强度和基于脉冲序列参数,计算B1传送阴影校正;以及应用所述B1传送阴影校正到使用由所述脉冲序列参数定义的脉冲序列在所述目标体积内采集的MR图像。
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