[发明专利]结合荷电状态的原位光谱确定的电化学系统及其方法在审

专利信息
申请号: 201580058588.9 申请日: 2015-12-08
公开(公告)号: CN107148570A 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 约瑟夫·约翰内斯·亨里克斯·皮哲思 申请(专利权)人: 洛克希德马丁尖端能量存储有限公司
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30;G01N21/55;G01N21/35
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司11002 代理人: 王朋飞,张晶
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在诸如液流电池的电化学系统内的荷电状态确定通常难以测量,特别是以原位方式。用于测定电化学系统的状态的方法可以包括在电化学系统内的位置处将电磁辐射与第一电解质溶液相互作用,电磁辐射通过被配置为在光学材料和第一电解质溶液之间的界面处呈现衰减全反射率的光学材料被传送;在检测器处接收已经经由光学材料内的一个或多个衰减全反射与第一电解质溶液相互作用的电磁辐射;以及经由在检测器处接收的电磁辐射,测量在第一电解质溶液内的第一配位化合物的氧化形式或还原形式中的至少一个的吸光度。
搜索关键词: 结合 状态 原位 光谱 确定 电化学 系统 及其 方法
【主权项】:
一种方法,其包括:提供电化学系统,所述电化学系统包含与第一电极接触的第一电解质溶液,所述第一电解质溶液包括具有氧化形式和还原形式的第一配位化合物;在所述电化学系统内的位置处将电磁辐射与所述第一电解质溶液相互作用,所述电磁辐射通过光学材料被传送,所述光学材料被配置为在所述光学材料和所述第一电解质溶液之间的界面处呈现衰减全反射率;其中所述光学材料具有高于所述第一电解质溶液的折射率;在检测器处接收已经经由所述光学材料内的一个或多个衰减全反射与所述第一电解质溶液相互作用的电磁辐射;以及利用在所述检测器处接收的电磁辐射,测量所述第一配位化合物的所述氧化形式或所述还原形式中的至少一个的吸光度。
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