[发明专利]用于选择离子进行离子碎裂的方法和系统在审
| 申请号： | 201580058002.9 | 申请日： | 2015-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN107148572A | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 尼克·鲁姆菲尔德;斯蒂芬·A·泰特 | 申请（专利权）人： | DH科技发展私人贸易有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/02 | 分类号： | G01N30/02 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司11287 | 代理人： | 关旭颖 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明教示是针对在样品分析中选择离子以进行后续离子碎裂的方法和系统。在一些情况下，用于分析和鉴别前驱物离子以进行进一步处理的系统和方法可以得益于任意地/随机地选择前驱物离子的发现方法，而非选择强度最高的前驱物离子亚群用于进一步分析以尝试使高质量、可鉴别的MS/MS谱的数量最大。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 选择 离子 进行 碎裂 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种分析样品的方法，所述方法包含：(a)对来自样品的离子进行质谱探测扫描以采集化合物离子谱，所述前驱物离子谱展现多个峰，所述峰各自对应于具有指定m/z比的多个离子；(b)选择所述探测扫描中对应于第一多个化合物离子的第一峰进行进一步处理；(c)对于对应于所述第一峰的所述第一多个化合物离子进行质谱分析以便采集第一产物离子谱；(d)选择所述探测扫描中对应于第二多个化合物离子的第二峰进行进一步处理；及(e)对于对应于所述第二峰的所述第二多个化合物离子进行质谱分析以便采集第二产物离子谱，其中所述探测扫描的所述第一峰和所述第二峰中至少一个是任意地选择。
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