[发明专利]用包含荧光基团和磁性基团的结构物分析样品的方法和系统在审
| 申请号： | 201580057040.2 | 申请日： | 2015-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN107076738A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | 克里斯多夫·戈登·阿特伍德 | 申请（专利权）人： | 克里斯多夫·戈登·阿特伍德 |
| 主分类号： | G01N33/53 | 分类号： | G01N33/53;G01N33/543 |
| 代理公司： | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司11129 | 代理人： | 吴泳历 |
| 地址： | 美国加利福尼*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一方面，通过使用包括磁性基团和荧光基团的结构物来测定样品中分析物的存在和/或水平。在一个实施例中，所述结构物在磁力作用下朝透明表面移动然后沿着所述表面被拖动。一方面，施加瞬逝场，并且通过它的荧光发射的改变测定所述荧光基团的分散或旋转能随着它在所述瞬逝场内和场外移动发生的变化，提供所述样品的成分与所述结构物之间的相互作用的量度。 | ||
| 搜索关键词： | 包含 荧光 基团 磁性 结构 分析 样品 方法 系统 | ||
【主权项】：
用于分析样品中分析物的方法，包括：提供包含磁性基团和荧光基团的结构物，所述磁性基团和荧光基团通过连接物连接在一起以便所述两个基团各自具有一定程度的扩散独立性，其中所述荧光基团和/或所述连接物可与目标分析物结合；用样品接触所述结构物使所述荧光基团和/或所述连接物与假设存在于样品中的所述目标分析物相互作用；向所述样品施加第一磁场使所述结构物朝表面移动，其中所述第一磁场包括轴向磁场分量；向所述样品施加第二磁场使所述结构物沿着所述表面移动，其中所述第二磁场包括横向磁场分量；向所述表面施加瞬逝场以足以激发所述荧光基团中的荧光；并且测定所述荧光基团的荧光发射以指示所述样品中目标分析物的存在、水平、和/或活性。
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