[发明专利]光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法有效

专利信息
申请号: 201580047513.0 申请日: 2015-08-06
公开(公告)号: CN106659457B 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 小岛进一;山川惠介 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘慧群
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种光子计数CT装置以及估计受辐射量计算方法。在光子计数CT装置中,与被照射的X射线的能谱形状无关,以简易的构成来高精度地估计被摄体的受辐射量。预先获得每个给定的能量范围的给定的强度的X射线所引起的受辐射量,并作为能带单位受辐射量数据来保持。若设定了拍摄条件,则根据设定的拍摄条件来照射,作为在无被摄体的状态下入射到检测器的X射线的能谱,获得每个能量范围的入射X射线的光子数(强度)。按照每个能量范围,将入射X射线的强度与能带单位受辐射量数据相乘,并将该结果关于整个能量范围来求和。由此来估计根据设定的拍摄条件而照射的照射X射线所引起的受辐射量。
搜索关键词: 光子 计数 ct 装置 以及 估计 辐射量 计算 方法
【主权项】:
一种光子计数CT装置,其特征在于,具备:X射线照射部,照射X射线;光子计数方式的X射线检测器,检测所述X射线;数据收集部,按照预先规定的第一能量范围区段的每个能量范围,对来自由所述X射线检测器检测出的X射线的X射线光子进行计数,获得每个该能量范围的计数信息;和受辐射量估计部,根据用户设定的拍摄条件来获得被摄体的估计受辐射量,所述受辐射量估计部具备:能谱获取部,根据所述第一能量范围区段的各能量范围的计数信息来获得能谱,该能谱是按照所述拍摄条件从所述X射线照射部照射出的X射线的能量分布;和估计受辐射量计算部,利用能带单位受辐射量数据和所述能谱来计算所述估计受辐射量,该能带单位受辐射量数据是X射线的预先规定的第二能量范围区段的每个能量范围的每单位强度的受辐射量数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社日立制作所,未经株式会社日立制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580047513.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top