[发明专利]利用LIBS光谱的快速材料分析

摘要

文中描述了一种LIBS测量系统，该LIBS测量系统提供了位于大致V形的斜槽或套管中的孔口、孔或开口，所述孔口、孔或开口允许从所述斜槽的底部接近待分析的材料。激光束穿过所述孔对准，光电探测器组件收集穿过所述孔而返回的光（信号）。在收到启动信号之后，位于所述斜槽的输出端处的分流器设备使某些颗粒从所述斜槽分流。

主权项

一种大量抽样及激光瞄准系统，用于提供大量材料流的材料识别，该系统包括：流动斜槽，其具有送料端和输出端，所述输出端适于从所述送料端成一个角度延伸，以使得所述流动斜槽为倾斜的，且所述大量材料流沿所述流动斜槽重力性地流动，所述流动斜槽具有大致凹形构造，该大致凹形构造包括孔，所述孔设置于所述流动斜槽的最大凹面的一点处，该点位于所述送料端的远端处；LIBS激光系统，其设置于所述孔的附近并且配置为引导脉冲激光束穿过所述孔并进入流经所述流动斜槽的材料，所述孔具有一尺寸，该尺寸足以允许激光束穿过，以到达所述流动材料的单个颗粒，并允许来自单个颗粒的辐射穿过所述孔而传输回来；以及辐射检测设备，其设置于所述孔的附近并且适于收集从材料的单个颗粒发射的辐射，其中，所述辐射检测设备通信地接合至所述LIBS激光系统，所述LIBS激光系统包括分光仪和控制器，所述分光仪配置为识别在斜槽中流动的单个颗粒的成分。