[发明专利]用于对电荷储存器件进行测试的测量仪器在审

专利信息
申请号: 201580040482.6 申请日: 2015-07-24
公开(公告)号: CN106574942A 公开(公告)日: 2017-04-19
发明(设计)人: 伊恩·W·汉特;格兰特·W·科瑞斯托弗克;迪安·柳比西奇 申请(专利权)人: 核科学股份有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;G01R31/36;G01R1/067;G01R31/28
代理公司: 北京市立方律师事务所11330 代理人: 王荣
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于具有多个导电接触焊盘的样本的测试仪器,所述仪器包括可控的、可变的力线性致动器;由线性致动器操作的探头组件,所述的探头组件一端的探头具有表面,用于接触样本;可移动的接触器组件包括多个触点,用于电接触样本上的多个接触焊盘;线性致动器和接触器组件安装在壳体上,所述壳体具有用于在测试期间夹持样本的标识区域;位置传感器组件,用于测量探头位置的变化;以及用于测量探头施加到样本上的力的传感器。
搜索关键词: 用于 电荷 储存 器件 进行 测试 测量 仪器
【主权项】:
一种用于具有多个导电接触焊盘的样本的测试仪器,所述仪器包括:可控的、可变的力线性致动器;由线性致动器操作的探头组件,所述的探头组件一端的探头具有表面,用于接触样本;可移动的接触器组件包括多个触点,用于电接触样本上的多个接触焊盘;线性致动器和接触器组件安装在壳体上,所述壳体具有用于在测试期间夹持样本的标识区域;位置传感器组件,用于测量探头位置的变化;以及用于测量探头施加到样本上的力的传感器。
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