[发明专利]双激光频率扫描干涉测量系统和方法有效

专利信息
申请号: 201580036930.5 申请日: 2015-06-24
公开(公告)号: CN106687762B 公开(公告)日: 2019-09-06
发明(设计)人: 胡安·乔斯·马丁内斯;奈杰尔·约瑟夫·科普纳;马修·思杜德·瓦登;爱德华·班杰明·休斯;迈克尔·阿洛伊修斯·坎贝尔 申请(专利权)人: NPL管理有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B11/02;G01S17/32;G01S7/491
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙纪泉
地址: 英国米*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 本文公开了一种光学装置、方法和测量系统。所述装置包括:第一输入,其用于从频率扫描激光器接收第一光束;第二输入,其用于从固定频率泵浦激光源接收第二光束。非线性光学人工装置接收第一和第二光束并将其互调制以产生第三光束,所述第三光束是相对于泵浦激光源的固定频率呈镜像的第一光束的反转拷贝。选择性组合元件输出第一和第三光束。选择或配置非线性人工装置或激光器中的一个或两个,使得第一和第二光束的光频分离满足非线性人工装置的相干长度条件。
搜索关键词: 激光 频率 扫描 干涉 测量 系统 方法
【主权项】:
1.一种距离测量系统,包括光学装置(110)和频率扫描干涉测量系统,所述光学装置(110)包括:第一输入(120),用于从频率扫描激光器接收第一光束(101);第二输入(130),用于从固定频率泵浦激光源(190)接收第二光束(102);非线性光学人工装置(140),用于接收所述第一和第二光束(101、102)并将其互调制以产生第三光束(103),所述第三光束(103)是相对于所述泵浦激光源的固定频率呈镜像的所述第一光束的反转拷贝;以及滤波器(160),由于从所述非线性光学人工装置(140)的输出中提取所述第三光束(103);组合元件,用于将第一光束(101)和滤波后的第三光束(103)组合并输出到频率扫描干涉测量系统(200、300);其中选择或配置所述非线性人工装置(140),使得所述第一和第二光束(101、102)的光学频率分离满足所述非线性人工装置(140)的相干长度条件,且非线性光学人工装置(140)设置成接收第一光束(101)和第二光束(102)并且通过四波混频进行互调制以产生第三光束(103);所述频率扫描干涉测量系统(200、300)包括干涉仪220,并且被设置为引导组合的第一和第三光束通过干涉仪(220)照射目标点,测量反射信号的频率并确定到目标点的距离。
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