[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201580033562.9 | 申请日: | 2015-06-01 |
公开(公告)号: | CN106471356B | 公开(公告)日: | 2018-01-02 |
发明(设计)人: | 牧野彰久;和久井章人;足立作一郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N21/82 | 分类号: | G01N21/82;G01N21/03;G01N35/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 周全 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 由于为了保证可靠性较高的测定而在测定前实施光源光量的检查,所以需要新追加检测器,为此需要追加放大器、A/D转换电路。本发明提供一种自动分析装置其具备当未将反应容器设置到测定端口时来自所述光源的一部分光入射到检测部、当将反应容器设置到测定端口时来自光源的光不入射到所述检测部的光学结构。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种自动分析装置,具备:反应容器,其在底部具备透镜结构;反应容器移送机构,其移送反应容器;样本分注机构,其向反应容器分注样本;试药分注机构,其将试药分注到反应容器,具有试药升温功能;光源,其用于将光从反应容器底方向向反应容器中的反应液照射;测定端口,其具备对来自被光照射的反应液的散射光进行检测的检测部,所述自动分析装置的特征在于,具备当未将所述反应容器设置到所述测定端口时来自所述光源的一部分光入射到所述检测部、当将所述反应容器设置到所述测定端口时来自所述光源的光不入射到所述检测部的光学结构。
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