[发明专利]磁式位置检测装置在审
| 申请号： | 201580033386.9 | 申请日： | 2015-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN106461418A | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | 平野裕幸;福冈诚二;铃木启史;守屋贵裕;成田薰 | 申请（专利权）人： | TDK株式会社 |
| 主分类号： | G01D5/12 | 分类号： | G01D5/12 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司11322 | 代理人： | 杨琦;沈娟 |
| 地址： | 暂无信息 | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种即便只有一个对象磁铁也能够进行合适的位置检测的磁式位置检测装置。磁式位置检测装置具备：偏置磁铁(1)、磁检测元件(2)、对象磁铁(3)和移动体(4)。偏置磁铁(1)和对象磁铁(3)相互异极相对。磁检测元件(2)设置于偏置磁铁(1)的与对象磁铁(3)相对的磁极面的前方。磁检测元件(2)相对于偏置磁铁(1)固定配置，并且与偏置磁铁(1)的相对位置关系被固定。磁检测元件(2)的位置上的磁场的方向根据对象磁铁(3)的移动而变化。磁检测元件(2)检测被施加于自身的磁场的方向。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种磁式位置检测装置，其中，具备偏置磁铁、对象磁铁和检测施加磁场的方向的磁检测元件，所述磁检测元件的位置上的磁场的方向根据所述对象磁铁相对于所述偏置磁铁的相对移动而变化，所述偏置磁铁与所述对象磁铁互相最接近时，在所述检测元件的位置处，所述对象磁铁产生的磁场比所述偏置磁铁产生的磁场大。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于TDK株式会社，未经TDK株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580033386.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
