[发明专利]用于制造箔结构的方法及对应的箔结构有效

专利信息
申请号: 201580029595.6 申请日: 2015-05-27
公开(公告)号: CN106465538B 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: J.博克;A.雷贝莱茵;A.舒尔策;A.韦格尔 申请(专利权)人: 大陆泰密克微电子有限责任公司
主分类号: H05K1/03 分类号: H05K1/03;H05K3/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周春梅;宣力伟
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于制造箔结构(100)的方法,所述方法包括下列方法步骤:构造(S1)待施加至或被施加至支承箔(10)的支承箔上部侧(11)上的导电箔(20);用保护层(30)覆盖(S2)已构造的导电箔(20)的导电箔上部侧(21);以及在覆盖步骤(S2)之后,将盖箔(50)层压至支撑箔上部侧(11)上并且层压至保护层(30)的保护层上部侧(21)上。
搜索关键词: 用于 制造 结构 方法 对应
【主权项】:
一种用于制造箔结构(100)的方法,其中,所述方法包括下列方法步骤:-构造(S1)被施加至或待施加至载体箔(10)的载体箔顶部侧(11)的导电箔(20);-用保护层(30)覆盖(S2)已构造的导电箔(20)的导电箔顶部侧(21);-在所述覆盖(S2)之后,将盖箔(50)层压(S3)至所述载体箔顶部侧(11)上并且层压至所述保护层(30)的保护层顶部侧(21)上。
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