[发明专利]用于差分相位对比成像的校准硬件体模在审
| 申请号： | 201580027473.3 | 申请日： | 2015-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN106413556A | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | U·范斯特文达勒;H·德尔;T·克勒;G·马滕斯;E·勒斯尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人： | 王英,刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于在差分相位对比成像装置(IM)中使用的体模主体(PB)对所述差分相位对比成像装置进行校准。所述体模主体(PB)允许同时校准三个不同图像信号信道，即折射、相移和小角散射。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 相位 对比 成像 校准 硬件 | ||
【主权项】：
一种体模主体(PB)，其被配置用于校准相位对比成像系统(IM)，所述系统能够发射X射线束(XB)，所述体模主体(PB)包括：‑至少三个相互不同的部分(P1、P2、P3)，其配置为当所述X射线束穿过所述体模主体(PB)时关于所述X射线束(XB)一起引起多个扰动，所述多个扰动包括i)相移、ii)吸收和iii)去相干，其中，所述扰动i)、ii)和iii)中的任一项确切地由所述至少三个相互不同的部分(P1、P2、P3)中的一个部分引起的程度大于所述扰动中的所述任一项由所述至少三个相互不同的部分(P1、P2、P3)中的各自两个其他部分引起的其他程度，并且其中，所述至少三个相互不同的部分(P1、P2、P3)中的至少一个部分包括至少三个不同的子部分(SP1、SP2、SP3)，所述至少三个不同的子部分被配置为将由所述至少一个部分引起的扰动的各自的程度分度为三个不同的子程度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司，未经皇家飞利浦有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580027473.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：集中度评价装置和程序
- 下一篇：设备、保护片及抗菌膜
