[发明专利]用于物体几何测量的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201580026472.7 申请日: 2015-05-13
公开(公告)号: CN106461385B 公开(公告)日: 2019-08-30
发明(设计)人: T·梅;C·艾姆韦格 申请(专利权)人: 泰勒.霍布森有限公司
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04;G01B21/20
代理公司: 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 代理人: 郑建晖;钟守期
地址: 英国莱*** 国省代码: 英国;GB
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摘要: 发明涉及一种用于物体(14)几何测量的方法和装置,具有:‑用于物体(14)的支座(12),‑至少一个相对于支座(12)可固定的基准物体(18,20),‑在至少一个方向(x,z)上可相对于基准物体(18,20)运动的支架(126),在支架上配置有一个基准物件(128)和一个间距测量设备(70),设计间距测量设备(70)是用于测量在物体(14)和基准物件(128)之间的间距(38,140),‑其中在支架(126)或基准物件(128)上相互呈间距地配置有朝向基准物体(18,20)的第一和第二基准传感器(150,152),其被构造为用于测量到基准物体(18,20)的第一和第二间距(51,53)。
搜索关键词: 用于 物体 几何 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于物体(14)几何测量的装置,其具有‑用于物体(14)的支座(12),‑至少一个相对于支座(12)可固定的基准物体(18,20),‑在至少一个方向(x,z)上相对于基准物体(18,20)移动的支架(126),在支架(126)上配置有一个基准物件(128)和一个间距测量设备(70),所述间距测量设备(70)构成为用于测量物体(14)和基准物件(128)之间的间距(38,140),其中所述间距测量设备(70)可旋转地安装在所述支架(126)上,‑其中在支架(126)或基准物件(128)上,相互呈间距地配置有朝向基准物体(18,20)的第一基准传感器(150)和第二基准传感器(152),两个基准传感器构成为用于测量到基准物体(18,20)的第一间距(51)和第二间距(53),‑其中所述支架(126)在由第一方向(x)和第二方向(z)所展开的平面(x,z)中相对于所述第一基准物体(18)和第二基准物体(20)移动,以及‑其中所述第一基准传感器(150)和所述第二基准传感器(152)对准第一基准物体(18),并且其中仅第三基准传感器(154)对准第二基准物体(20)。
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