[发明专利]微粒的个数测量器及微粒的个数测量方法在审
| 申请号： | 201580016082.1 | 申请日： | 2015-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN106133501A | 公开（公告）日： | 2016-11-16 |
| 发明（设计）人： | 水野和幸;鬼头贤信 | 申请（专利权）人： | 日本碍子株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06;G01N27/60 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 范胜杰;曹鑫 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及微粒的个数测量器及微粒的个数测量方法。个数测量器(10A)具有：壳体(12)，其由陶瓷构成；电荷附加单元(20)，其向导入到壳体(12)内的被测定气体(14)中的微粒(16)附加电荷(18)；电荷捕集单元(22A)，其捕集附加在微粒(16)上的电荷(18)；以及个数测定单元(24)，其根据捕集的电荷(18)的量测定微粒(16)的个数。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 个数 测量器 测量方法 | ||
【主权项】：
一种微粒的个数测量器，其特征在于，具有：壳体(12)，其由陶瓷构成；电荷附加单元(20)，其向导入到上述壳体(12)内的被测定气体(14)中的微粒(16)附加电荷(18)；电荷捕集单元(22A)，其捕集附加在上述微粒(16)上的电荷(18)；以及个数测定单元(24)，其根据捕集的电荷(18)的量测定微粒(16)的个数。
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