[发明专利]用于谱学感测的可调谐滤波器有效
| 申请号： | 201580014227.4 | 申请日： | 2015-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN106104255B | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | K·C·J·韦杰布兰斯;G·W·吕卡森;B·H·W·亨德里克斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/31;G01N21/47;G01N21/49;G01J3/12;G02B6/12;A61B1/00;G01J3/26;G01J3/28;G02B6/293 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于对样本进行分析的谱学分析设备，包括：光子集成电路(PIC)，包括：输入部(DEF)，其用于接收来自所述样本的光；以及解复用器(DEMUX)，其被布置为将接收到的光分布到至少一个第一光学链(C1)和第二光学链(C2)中；其中，所述光子集成电路(PIC)的每个光学链(C1、C2)还包括可调谐带通滤波器(TBF1、TBF2)和可变衰减器(ATT1、ATT2)以及光电探测器(PD1、PD2)，所述可调谐带通滤波器和所述可变衰减器以及所述光电探测器分别被布置为对被分布到其对应的光学链(C1、C2)中的所述光进行滤波和进行衰减以及进行探测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 谱学感测 调谐 滤波器 | ||
【主权项】：
1.一种用于对物质的样本进行分析的谱学分析设备，所述设备包括：光子集成电路(PIC)，包括：输入部(DEF)，其用于接收来自所述样本的光；解复用器(DEMUX)；至少第一光学链(C1)和至少第二光学链(C2)；其中，所述解复用器(DEMUX)被布置为将接收到的光分布到所述第一光学链(C1)和所述第二光学链(C2)中；其中，所述光子集成电路(PIC)的每个光学链(C1、C2)还包括可调谐带通滤波器(TBF1、TBF2)和可变衰减器(ATT1、ATT2)以及光电探测器(PD1、PD2)，所述可调谐带通滤波器和所述可变衰减器以及所述光电探测器分别被布置为对被分布到其对应的光学链(C1、C2)中的所述光进行滤波和进行衰减以及进行探测；其中，所述谱学分析设备还包括：控制器(MC)，其被布置为：控制两个或更多个所述可调谐带通滤波器(TBF1、TBF2)，控制两个或更多个所述可变衰减器(ATT1、ATT2)，接收从两个或更多个所述光电探测器(PD1、PD2)所获得的光电探测器结果，并且基于所接收的光电探测器结果来提供谱学分析结果；其中，所述控制器(MC)还包括存储器(MWCWT)，所述存储器被配置为存储与所述物质相对应的多个谱系数；并且其中，所述控制器(MC)还被配置为通过将所述谱系数应用到每个光学链(C1、C2)中的所述可变衰减器(ATT1、ATT2)来控制两个或更多个所述可变衰减器(ATT1、ATT2)，使得由每个光学链(C1、C2)中的所述光电探测器(PD1、PD2)探测到的所述光的功率基于所应用的谱系数而被衰减。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司，未经皇家飞利浦有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580014227.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
