[发明专利]超声波观测装置以及超声波观测装置的工作方法

摘要

本发明提供超声波观测装置、超声波观测装置的工作方法以及超声波观测装置的工作程序。本发明所涉及的超声波观测装置具备：特征量计算部，其分别计算通过对超声波信号的频率进行分析而得到的多个频谱的特征量；衰减率设定部，其针对将超声波图像分割为多个区域得到的各分割区域，使用赋予互不相同的衰减特性的、多个每单位长度和每单位频率的衰减率候选值中的每个衰减率候选值，来对各频谱的特征量实施用于排除超声波的影响的衰减校正，由此针对每个衰减率候选值计算的各频谱的预备校正特征量，设定多个衰减率候选值中的对于所述观测对象而言最佳的衰减率；以及特征量校正部，其使用超声波振子的表面与采样点之间存在的分割区域的最佳的衰减率，来计算采样点处的每单位频率的累积衰减率，使用该累积衰减率来进行特征量的衰减校正，由此计算校正特征量。

主权项

1.一种超声波观测装置，基于由超声波探头获取到的超声波信号来生成超声波图像，该超声波探头具备向观测对象发送超声波并接收由该观测对象反射的超声波的超声波振子，该超声波观测装置的特征在于，具备：频率分析部，其通过对所述超声波信号的频率进行分析，来计算与所述超声波信号的接收深度及接收方向相应的多个频谱；特征量计算部，其分别计算所述多个频谱的特征量；衰减率设定部，其针对将所述超声波图像分割为多个区域得到的各分割区域，使用在所述超声波在所述观测对象中传播时赋予互不相同的衰减特性的、多个每单位长度和每单位频率的衰减率候选值中的每个衰减率候选值，来对各频谱的特征量实施用于排除所述超声波的影响的衰减校正，由此针对每个所述衰减率候选值计算各所述频谱的预备校正特征量，基于该计算的结果来设定多个所述衰减率候选值中的对于所述观测对象而言最佳的衰减率；以及特征量校正部，其使用由所述衰减率设定部针对每个所述分割区域设定的最佳的衰减率中的、所述超声波振子的表面与采样点之间存在的所述分割区域的最佳的衰减率，来计算所述采样点处的每单位频率的累积衰减率，使用该累积衰减率来进行所述特征量的衰减校正，由此计算校正特征量，其中，所述衰减率设定部针对每个所述衰减率候选值计算所述预备校正特征量的统计性偏差，将该统计性偏差最小的衰减率候选值设为所述最佳的衰减率。