[发明专利]计测系统、计测方法及视觉芯片有效

专利信息
申请号: 201580000218.X 申请日: 2015-01-22
公开(公告)号: CN106062507B 公开(公告)日: 2020-03-17
发明(设计)人: 渕上竜司 申请(专利权)人: 松下电器(美国)知识产权公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军;蒋巍
地址: 美国加*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 计测系统(100)具有:投影装置(102),按照第1图案图像和第2图案图像的投影混合存在的投影流程,将表示第1图案投影图像的第1图案光投影在被摄体上,该第1图案投影图像包括第1图案图像和第2图案图像,第1图案图像与将利用投影坐标系规定的投影坐标葛莱码化得到的葛莱码的特定的比特对应,第2图案图像具有与第1图案图像相同的周期,而且具有与第1图案图像不同的相位;以及至少一个摄像装置(101),拍摄被投影于被摄体的第1图案光并生成摄像图像。
搜索关键词: 系统 方法 视觉 芯片
【主权项】:
一种计测系统,该计测系统具有:投影装置,按照第1图案图像和第2图案图像的投影混合存在的投影流程,将表示第1图案投影图像的第1图案光投影在被摄体上,所述第1图案投影图像包含所述第1图案图像和所述第2图案图像,所述第1图案图像与将利用投影坐标系规定的投影坐标葛莱码化得到的葛莱码的特定的比特对应,所述第2图案图像具有与所述第1图案图像相同的周期,而且具有与所述第1图案图像不同的相位;以及至少一个摄像装置,拍摄所述第1图案光并生成摄像图像。
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