[实用新型]特定光谱条件下的纹理检测装置有效
| 申请号： | 201521088761.3 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN205302395U | 公开（公告）日： | 2016-06-08 |
| 发明（设计）人： | 王华林;缪安铌;蒋晓军;蔡实;华焱建 | 申请（专利权）人： | 无锡市星迪仪器有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/40 | 分类号： | G06T7/40 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人： | 曹祖良;韩凤 |
| 地址： | 214028 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种特定光谱条件下的纹理检测装置，其包括CCD/CMOS成像物镜和CCD/CMOS图像传感器，CCD/CMOS图像传感器的输出端连接后端图像处理模块，在所述CCD/CMOS成像物镜之前，或者CCD/CMOS成像物镜与CCD/CMOS图像传感器之间设置能够透过特定波段光谱的检验镜，使得图像经过检验镜之后再成像到CCD/CMOS图像传感器上，最后传到后端图像处理模块。所述检验镜可以是绿色检验镜或白色检验镜。本实用新型的优点是：由于在图像传感器前端加入了能够透过特定波段光谱的检验镜，获得特定光谱条件下的目标与背景图像成像，使得后端图像处理模块能够提取两幅图像中光谱分布明显不同的区域，利用该区域来代替整幅图像进行匹配运算，缩小了搜索范围，减少了计算量，从而有助于节省时间、减小误判。 | ||
| 搜索关键词： | 特定 光谱 条件下 纹理 检测 装置 | ||
【主权项】：
特定光谱条件下的纹理检测装置，包括CCD/CMOS成像物镜（2）和CCD/CMOS图像传感器（3），CCD/CMOS图像传感器（3）的输出端连接后端图像处理模块（4），其特征是，在所述CCD/CMOS成像物镜（2）之前，或者CCD/CMOS成像物镜（2）与CCD/CMOS图像传感器（3）之间设置能够透过特定波段光谱的检验镜（1），使得图像经过检验镜（1）之后再成像到CCD/CMOS图像传感器（3）上，最后传到后端图像处理模块（4）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡市星迪仪器有限公司，未经无锡市星迪仪器有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201521088761.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种学生考勤签到系统
- 下一篇：自动发卡器
