[实用新型]半导体集成设备以及电子设备有效

专利信息
申请号: 201520967336.5 申请日: 2015-11-27
公开(公告)号: CN205590278U 公开(公告)日: 2016-09-21
发明(设计)人: R·布廖斯基;S·阿多尔诺;K·方克 申请(专利权)人: 意法半导体(马耳他)有限公司;意法半导体股份有限公司
主分类号: B81B7/02 分类号: B81B7/02
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;吕世磊
地址: 马耳他*** 国省代码: 马耳他;MT
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摘要: 本公开的实施方式涉及半导体集成设备以及电子设备。该半导体集成设备(51、81;91)包括:封装体(50),限定内部空间(8)并且具有与封装体(50)外部的环境声学连通的声进入开口(28;98b);MEMS声换能器(21),容纳在内部空间(8)中,并且设置有面向声进入开口(28;98b)的声学室(6);以及过滤模块(52;82;96),过滤模块设计成阻止具有比过滤尺寸(d1;dMAX)更大的尺寸的污染颗粒的通过,并且设置在MEMS声换能器(21)与声进入开口(28;98b)之间。过滤模块在声进入开口(28;98b)与声学室(6)之间限定至少一个直接声学路径。
搜索关键词: 半导体 集成 设备 以及 电子设备
【主权项】:
一种半导体集成设备(51、81;91),包括:封装体(50),具有共同限定所述封装体(50)的内部空间(8)的基部元件(23)和覆盖元件(27),所述基部元件(23)具有与所述封装体(50)外部的环境声学连通的声进入开口(28;98b);以及MEMS声换能器(21),容纳在所述封装体(50)的内部空间(8)中,并且设置有面向所述声进入开口(28;98b)的声学室(6),其特征在于,所述半导体集成设备还包括过滤模块(52;82;96),所述过滤模块适于阻止具有比过滤尺寸(d1;dMAX;dMIN)更大尺寸的污染颗粒的通过,所述过滤模块设置在所述MEMS声换能器(21)与所述声进入开口(28;98b)之间,所述过滤模块在所述声进入开口(28;98b)与所述声学室(6)之间形成至少一个直接声学路径。
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