[实用新型]集成电路测试载板有效
| 申请号: | 201520956020.6 | 申请日: | 2015-11-26 |
| 公开(公告)号: | CN205229194U | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
| 发明(设计)人: | 沈琦崧;余玉龙 | 申请(专利权)人: | 上海兆芯集成电路有限公司 |
| 主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
| 地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本实用新型公开了一种集成电路测试载板,其包括有第一表面,第一表面包括多个第一接触件,集成电路测试载板更包括测试板,测试板包括第二表面以及第三表面,第二表面配置有多个第二接触件,第二接触件是用以与集成电路载板耦接,集成电路载板是用以承载待测试的集成电路,第三表面并配置有多个第三接触件,第三接触件与对应的第二接触件耦接,第三接触件并用以与第一接触件耦接,当第二接触件氧化或损坏时,本实用新型的集成电路测试载板可立即替换未损坏的测试板以对集成电路继续进行后续测试。 | ||
| 搜索关键词: | 集成电路 测试 | ||
【主权项】:
一种集成电路测试载板,其包括:第一表面,所述第一表面具有至少一测试区,所述测试区包括多个第一接触件;以及至少一测试板,所述测试板与所述测试区的所述第一接触件耦接,所述测试板更包括:第二表面,配置有多个第二接触件,所述第二接触件是用以与集成电路载板耦接;以及第三表面,配置于所述第二表面的相对侧,所述第三表面并配置有多个第三接触件,每一所述第三接触件藉由对应的导电线路与对应的所述第二接触件耦接,所述第三接触件并用以与所述第一接触件耦接。
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