[实用新型]电容测试电路、液位检测电路有效

专利信息
申请号: 201520924988.0 申请日: 2015-11-19
公开(公告)号: CN205280180U 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 钱和革 申请(专利权)人: 钱和革
主分类号: G01F23/26 分类号: G01F23/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 243000 安徽省马*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种电容测试电路,其特征在于:包括一号电阻(R1)、二号电阻(R2)、三号电阻(R3)、限向二极管(D2)、一号测试点(ca1)、二号测试点(ca2)、电源点(VCC9)、电源地点(GND9)、采样二极管(D1)、采样点(Q)、采样电容(C1)、采样连接点(P1)、单片机PIC12F510、测试信号开关(MOS1)、采样连接点(P1)。液位检测电路,具有前述的电容测试电路和两个极板。本实用新型成本低廉、应用灵活、使用寿命长、稳定可靠。
搜索关键词: 电容 测试 电路 检测
【主权项】:
一种电容测试电路,其特征在于:包括一号电阻(R1)、二号电阻(R2)、三号电阻(R3)、限向二极管(D2)、一号测试点(ca1)、二号测试点(ca2)、电源点(VCC9)、电源地点(GND9)、采样二极管(D1)、采样点(Q)、采样电容(C1)、采样连接点(P1)、单片机PIC12F510、测试信号开关(MOS1)、采样连接点(P1);       测试信号开关(MOS1)具有一个开关通道、一个控制端,控制测试信号开关(MOS1)的控制端的电平能实现开关通道的断开与连通,测试信号开关(MOS1)的控制端与采样连接点(P1)相连;       采样连接点(P1)与单片机PIC12F510的一个IO脚相连;        一号电阻(R1)的一端与一号测试点(ca1)相连,一号电阻(R1)的另一端经由测试信号开关(MOS1)的开关通道连接到电源点(VCC9);       二号电阻(R2)的一端与一号测试点(ca1)相连;       三号电阻(R3)的一端与二号测试点(ca2)相连;       限向二极管(D2)的正极与二号测试点(ca2)相连,限向二极管(D2)的负极与电源地点(GND9)相连;       三号电阻(R3)不与二号测试点(ca2)相连的端和二号电阻(R2)不与一号测试点(ca1)相连的端相连;       三号电阻(R3)、二号电阻(R2)的公共连接点与采样二极管(D1)的正极相连;       采样二极管(D1)的负极与采样点(Q)相连;       采样电容(C1)的一端与采样点(Q)相连,采样电容(C1)的另一端与电源地点(GND9)相连;       采样连接点(P1)与采样点(Q)相连;         采样连接点(P1)与单片机PIC12F510的一个可设置为AD采样模式的引脚相连,以使单片机PIC12F510采集采样点(Q)即采样电容(C1)的充电端的电压值;       采样连接点(P1)与单片机PIC12F510的一个能够设置为高阻模式的且能够设置为IO输出模式的引脚相连,单片机PIC12F510具有排泄采样点(Q)的电荷为新的测试做准备的能力;当单片机PIC12F510的这个能够设置为高阻模式的且能够设置为IO输出模式的引脚设置为高阻模式时,单片机PIC12F510的这个能够设置为高阻模式的且能够设置为IO输出模式的引脚不会影响采样点(Q)的电压值;当单片机PIC12F510的这个能够设置为高阻模式的且能够设置为IO输出模式的引脚设置为IO输出模式且输出低电平时,单片机PIC12F510起到排泄采样点(Q)的电荷降低采样点(Q)电压值的作用以为新的测试做准备;       单片机PIC12F510的电源脚(VDD)与电源点(VCC9)相连,单片机PIC12F510的接地脚(VSS)与电源地点(GND9)相连;       与采样连接点(P1)相连的单片机PIC12F510的IO脚可以输出高电平、低电平,以实现测试信号开关(MOS1)的开关通道的通断控制,并形成用于测试电容的PWM测试信号;所述单片机还包括单片机程序;单片机程序烧录在单片机PIC12F510中,所述的单片机PIC12F510的部分引脚既可设置为AD采样模式的引脚也能够设置为IO输入模式也能够设置为IO输出模式。
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