[实用新型]带探头测量的高光机有效

专利信息
申请号: 201520733172.X 申请日: 2015-09-21
公开(公告)号: CN204975708U 公开(公告)日: 2016-01-20
发明(设计)人: 叶贤松 申请(专利权)人: 东莞市迪奥数控设备有限公司
主分类号: B23K26/36 分类号: B23K26/36;B23K26/70
代理公司: 北京乾诚五洲知识产权代理有限责任公司 11042 代理人: 付晓青;杨玉荣
地址: 523809 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供的一种带探头测量的高光机,所述高光机包括机架、工作空间、高光机构和探头测量机构。机架为中空腔体,所述中空腔体内的下方形成有一封闭的工作空间;工作空间的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构,高光机构的水平一侧设有探头测量机构;探头测量机构包括框架、探头装置)、测量头;框架为探头测量机构的外壳,框架内的底部容纳有可上下自由运动的带有测量头的探头装置,测量头可自由伸出框架外并对工件进行测量。本实验新型结构简单、测量精度高,能大大提高带探头测量的高光机的工作质量。
搜索关键词: 探头 测量 高光机
【主权项】:
一种带探头测量的高光机,所述高光机包括机架(1)、工作空间(2)、高光机构(3)和探头测量机构(4);其特征在于,机架(1)为中空腔体,所述中空腔体内的下方形成有一封闭的工作空间(2);工作空间(2)的上方设置有一可左右、前后和上下方向运动的高光机构(3),高光机构(3)的水平一侧设有探头测量机构(4);探头测量机构(4)包括框架(41)、探头装置(42)、测量头(43);框架(41)为探头测量机构(4)的外壳,框架(41)内的底部容纳有可上下自由运动的带有测量头(43)的探头装置(42),测量头(43)可自由伸出框架(41)外并对工件进行测量。
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