[实用新型]柱面透射弯晶分析器有效
| 申请号： | 201520727433.7 | 申请日： | 2015-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN205049497U | 公开（公告）日： | 2016-02-24 |
| 发明（设计）人： | 徐涛;刘慎业;苏明;范松如 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207 |
| 代理公司： | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人： | 龙玉洪 |
| 地址： | 404100*** | 国省代码： | 重庆;85 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种柱面透射弯晶分析器，包括支撑台，所述支撑台一个侧面为抛光后的圆弧凸面，该圆弧凸面中心位置设有用于待测X射线穿过的第一矩形测量孔，该支撑台两侧设有对称的圆形沉孔，且所述支撑台的圆弧凸面贴合有抛光后的平面薄晶体，本实用新型平面薄晶体的表面面型精度较高，而且降低装配难度，有效地保护晶体表面不被伤害，同时使平面薄晶体弯曲半径可控制得很小，提高分析器的应用灵活性。 | ||
| 搜索关键词： | 柱面 透射 分析器 | ||
【主权项】：
一种柱面透射弯晶分析器，包括支撑台(1)，其特征在于：所述支撑台(1)一侧表面为经抛光的圆弧凸面，该圆弧凸面中心位置设有贯穿所述支撑台(1)的第一矩形测量孔(5)，该第一矩形测量孔(5)两侧对称设有固定用的沉孔(6)，所述支撑台(1)的圆弧凸面贴合有经抛光的平面薄晶体(2)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心，未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520727433.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：三维ECT与ERT双模态复合传感器装置
- 下一篇：一种静电涂油机漏涂检测系统
