[实用新型]一种IC测试座有效
| 申请号： | 201520717208.5 | 申请日： | 2015-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN204945180U | 公开（公告）日： | 2016-01-06 |
| 发明（设计）人： | 李志威;黄苏芳;谭先锋 | 申请（专利权）人： | 万高（杭州）科技有限公司;国网智能电网研究院;国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市滨*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种IC测试座，包括上盖板和基座，所述基座的上表面的四个角的位置设置有定位孔，至少一个所述定位孔中设置有控制芯片供电电源通断的按键开关，所述上盖板与所述基座闭合时按压所述按键开关，使所述按键开关闭合，接通所述芯片供电电源，所述上盖板与所述基座分离时解除所述上盖板对所述按键开关的压力，使所述按键开关断开，断开所述芯片供电电源。本申请提供的上述IC测试座，能够在不增加软硬件的设计难度，还不需要消耗额外的器件资源和I/O资源的基础上，做到不带电取放芯片，提高芯片良率，而且操作简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 测试 | ||
【主权项】：
一种IC测试座，包括上盖板和基座，所述基座的上表面的四个角的位置设置有定位孔，其特征在于，至少一个所述定位孔中设置有控制芯片供电电源通断的按键开关，所述上盖板与所述基座闭合时按压所述按键开关，使所述按键开关闭合，接通所述芯片供电电源，所述上盖板与所述基座分离时解除所述上盖板对所述按键开关的压力，使所述按键开关断开，断开所述芯片供电电源。
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