[实用新型]光学材料折射率曲线测量装置

摘要

本实用新型涉及一种光学材料折射率曲线测量装置。包括用于测量待测光学材料不同波长的群折射率值的宽带光相干干涉系统及用于测量该待测光学材料在一确定的激光波长下对应的折射率值的激光双缝干涉系统，结合待测光学材料不同波长的群折射率值及其在确定的激光波长下对应的折射率值，即可得到待测光学材料在整个波长范围的折射率曲线。本实用新型结构简单，易于实现，简化了传统复杂的光学材料折射率曲线测量操作步骤。

主权项

一种光学材料折射率曲线测量装置，其特征在于：包括用于测量待测光学材料不同波长的群折射率值的宽带光相干干涉系统及用于测量该待测光学材料在一确定的激光波长下对应的折射率值的激光双缝干涉系统；所述宽带光相干干涉系统包括宽带光源、第一透镜、第二透镜、分光镜、第一反射镜、第二反射镜、光谱仪；宽带光源发出的光经第一透镜准直后，被分光镜分为参考臂光束和样品臂光束，其中样品臂光束中插入待测光学材料，两束光束经第一反射镜、第二反射镜反射后，返回分光镜汇合并经第二透镜聚焦后被光谱仪采集；所述激光双缝干涉系统包括激光光源、单缝片、双缝片、观察屏。