[实用新型]一种用于定位构件表面缺陷的测量装置有效
| 申请号: | 201520499135.7 | 申请日: | 2015-07-10 |
| 公开(公告)号: | CN204788143U | 公开(公告)日: | 2015-11-18 |
| 发明(设计)人: | 李运兴;王利民;龚蕾;王书民 | 申请(专利权)人: | 上海众材工程检测有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
| 代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 邓琪 |
| 地址: | 201209 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本实用新型提供一种用于定位构件表面缺陷的测量装置,包括:具有开口的主尺盒,主尺盒内设置平行于第一方向延伸的棒轴,主尺盒上设置有平行于第一方向的主刻度线;辅助尺,辅助尺上设置有与主刻度线对应的平行于第一方向的辅助刻度线;以及透明的网格线尺,一端固定于棒轴上,另一端穿过开口固定于辅助尺上,网格线尺上设置有垂直于第一方向的侧软尺,网格线尺上还设置有与主刻度线、辅助刻度线和侧软尺对应的单元格。本实用新型能够同时快速、准确地测量同一测点在相互垂直的两个方向的位置坐标,提高测量效率,同时便于快速按比例描绘图纸记录缺陷。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 用于 定位 构件 表面 缺陷 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种用于定位构件表面缺陷的测量装置,其特征在于,所述测量装置包括:主尺盒,所述主尺盒上具有开口,所述主尺盒内设置一平行于第一方向延伸的棒轴,所述主尺盒上设置有平行于第一方向的主刻度线;辅助尺,所述辅助尺上设置有与所述主刻度线对应的平行于第一方向的辅助刻度线;以及透明的网格线尺,所述网格线尺的一端固定于所述棒轴上,所述网格线尺的另一端穿过所述开口固定于所述辅助尺上,所述网格线尺上设置有垂直于第一方向的侧软尺,所述网格线尺上还设置有与所述主刻度线、所述辅助刻度线和所述侧软尺对应的单元格。
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