[实用新型]测算无源RFID芯片内部谐振电容的装置有效
| 申请号： | 201520428519.X | 申请日： | 2015-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN204758704U | 公开（公告）日： | 2015-11-11 |
| 发明（设计）人： | 吴华;刘建峰;徐银森;李承峰;胡汉球 | 申请（专利权）人： | 南通金泰科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226008 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种测算无源RFID芯片内部谐振电容的装置，具有依次串联连接的PC机、信号输出线、FPGA、信号采集线、555定时器；待测试的裸片（die）与电阻R串联后构成RC谐振电路，连接在555定时器的接线柱之间。使用本实用新型的操作简单、测量速度快、测量结果直观。 | ||
| 搜索关键词： | 测算 无源 rfid 芯片 内部 谐振 电容 装置 | ||
【主权项】：
一种测算无源RFID芯片内部谐振电容的装置，用于测试的裸片（die）的谐振电容数值，其特征在于：具有依次串联连接的PC机（1）、信号输出线（2）、FPGA（3）、信号采集线（4）、555定时器（5）；待测试的裸片（die）（7）与电阻（6）串联后构成RC谐振电路，连接在555定时器（5）的接线柱之间。
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