[实用新型]基于时间相关单光子计数原理的X射线激发发射光谱仪有效
| 申请号： | 201520390149.5 | 申请日： | 2015-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN204705604U | 公开（公告）日： | 2015-10-14 |
| 发明（设计）人： | 孙心瑗;余晓光;蒋达国;胡强林;杨庆梅 | 申请（专利权）人： | 井冈山大学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 343009 江*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 基于时间相关单光子计数原理的X射线激发发射光谱仪，涉及闪烁材料检测用的光谱测试仪器。其特征在于：该光谱仪依次包括X射线源、光学耦合系统、单光子计数探测系统和计算机；光学耦合系统由透镜组及光纤构成，将X射线激发闪烁体产生的荧光通过透镜组聚焦到光纤端面，随后荧光在光纤内传播并到单光子计数探测系统。该光谱仪的一个显著优点是其光电探测系统采用较为成熟的时间相关单光子计数原理，即使闪烁体的微弱荧光信号也能被灵敏地探测和记录。该光谱仪主要用于闪烁体的高能射线(特别是X射线)激发下其发光强度随波长的关系(光谱测量)、以及高能X射线停止激发后其发光强度随时间的关系(余辉特性测量)。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 时间 相关 光子 计数 原理 射线 激发 发射 光谱仪 | ||
【主权项】：
一种基于时间相关单光子计数原理的X射线激发发射光谱仪，其特征在于：该光谱仪依次包括X射线源、光学耦合系统、单光子计数探测系统和计算机；光学耦合系统由透镜组及光纤构成，将X射线激发闪烁体产生的荧光通过透镜组聚焦到光纤端面，随后荧光在光纤内传播并到单光子计数探测系统。
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