[实用新型]带有冷光阑的红外高光谱成像系统有效

专利信息
申请号: 201520371936.5 申请日: 2015-06-02
公开(公告)号: CN204964020U 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 王跃明;周世尧;王建宇;舒嵘;袁立银;郎均慰;黄文俊;鲍智康 申请(专利权)人: 中国科学院上海技术物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 郭英
地址: 200083 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 专利公开了一种带有冷光阑的红外高光谱成像系统。本系统由成像子系统和分光子系统构成。所述成像子系统包括物镜组和第一低温遮光罩。所述分光子系统包括狭缝、准直反射镜、分光棱镜、会聚反射镜、校准镜、第二低温遮光罩和探测器光敏面。其中,第一低温遮光罩和第二低温遮光罩均被降温至100K开氏温度以下,两处带有玻璃平板的盒状遮光罩分别置孔径光阑和探测器光敏面于低温保护中。入射光线经物镜组一次成像于狭缝,经准直反射镜反射后进入分光棱镜色散分光,再经过会聚反射镜反射和校准镜校准后二次成像在探测器光敏面上。采用本专利的高光谱成像系统不仅像质好,集光能力强,光学效率高,而且低温保护区域小,杂散光干扰弱。
搜索关键词: 带有 光阑 红外 光谱 成像 系统
【主权项】:
一种带有冷光阑的红外高光谱成像系统;包括成像子系统和分光子系统其特征在于:所述的成像子系统包括物镜组(1)和第一低温遮光罩(2);所述的物镜组(1)会聚来自物方的光并一次成像到狭缝(5)所处的焦平面上,所述的第一低温遮光罩(2)中的狭缝(5)和光阑保持低温状态;所述的分光子系统包括狭缝(5)、准直反射镜(7)、分光棱镜(8)、会聚反射镜(9)、校准镜(10),所述的准直反射镜(7)用于转折光路和会聚光线,分光棱镜(8)用于色散和改善像质,会聚反射镜(9)用于转折光路和聚焦成像,校准镜(10)用于校准会聚光路和消色差,第二低温遮光罩(11)用于保持探测器光敏面(14)处于低温状态,探测器光敏面(14)用于接收光路并二次成像;不同视场角的光线进入系统后,经物镜组(1)会聚到第一玻璃平板(3)上,再由光阑所在的低温滤光片(4)限制最终成像在第一低温遮光罩(2)中的狭缝(5)上,通过狭缝(5)的光线由第二玻璃平板(6)出射后,经过准直反射镜(7)反射到分光棱镜(8)色散,然后折射到会聚反射镜(9)上,最后会聚到校准镜(10)处;经过所述校准镜(10)校准成像后,光路再经第三玻璃平板(12)、第四玻璃平板(13),最终被所述探测器光敏面(14)接收,与行扫描方向对应的探测器列阵单元构成空间维,与色散方向对应的探测器阵列单元构成光谱维。
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