[实用新型]一种用于单片清洗设备的防止晶片背面污染的装置有效

专利信息
申请号: 201520356146.X 申请日: 2015-05-28
公开(公告)号: CN204632736U 公开(公告)日: 2015-09-09
发明(设计)人: 刘效岩;吴仪;赵曾男;张豹;姬丹丹 申请(专利权)人: 北京七星华创电子股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 陶金龙;张磊
地址: 100016 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于单片清洗设备的防止晶片背面污染的装置,包括同心设于旋转卡盘上面的氮气盖,在氮气盖的上表面中部凸出设有一气体喷射机构,环绕气体喷射机构侧面均匀设有多个出气孔,出气孔按辐射状朝向位于其上方的晶片背面的边缘方向成一定上倾角度设置,既可不影响机械手取放晶片,又可使从出气孔喷射出的气体形成与晶片背面边缘相交的一圈倒伞形气体保护层,可保证晶片整个背面都得到气体的保护,并可有效阻挡回溅的清洗液,避免对晶片背面造成二次污染。
搜索关键词: 一种 用于 单片 清洗 设备 防止 晶片 背面 污染 装置
【主权项】:
一种用于单片清洗设备的防止晶片背面污染的装置,包括同心设于旋转卡盘上面的氮气盖,其特征在于,所述氮气盖的上表面中部凸出设有一气体喷射机构,环绕所述气体喷射机构侧面均匀设有多个出气孔,所述出气孔按辐射状朝向位于其上方的晶片背面的边缘方向成一定上倾角度设置,以使从所述出气孔喷射出的气体形成与所述晶片背面边缘相交的一圈倒伞形气体保护层。
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