[实用新型]74/54系列中规模组合逻辑门电路芯片测试装置有效
| 申请号： | 201520319451.1 | 申请日： | 2015-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN204666787U | 公开（公告）日： | 2015-09-23 |
| 发明（设计）人： | 钱莹晶;张仁民;周群;张涛;廖普辉 | 申请（专利权）人： | 怀化学院 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 418008 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 为快速准确验证74/54系列中规模组合逻辑门电路芯片的逻辑功能，本实用新型提供一种74/54系列中规模组合逻辑门电路芯片逻辑功能测试装置。该装置包括电源模块、处理器模块、电气接口模块、人机接口模块和待测芯片插槽。所述处理器模块采用现场可编程门阵列FPGA，分别与电气接口模块、人机接口模块连接;所述待测芯片插槽通过电气接口模块与处理器模块相连。该装置能快速准确的检测出74/54系列中规模14脚组合逻辑门电路芯片的逻辑功能，并将待测试芯片内部各个门电路的测试结果显示在人机接口模块的显示子模块上。该装置具有使用方便、操作简单、测试速度快等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 74 54 系列 规模 组合 逻辑 门电路 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种74/54系列中规模组合逻辑门电路芯片测试装置，其特征在于，包括电源模块、处理器模块、电气接口模块、人机接口模块和待测芯片插槽；所述电源模块分别与处理器模块、电气接口模块、人机接口模块和待测芯片插槽连接；所述处理器模块分别与电气接口模块、人机接口模块连接;所述待测芯片插槽通过电气接口模块与处理器模块相连；该装置能快速准确的检测出74/54系列中规模14脚组合逻辑门电路芯片的逻辑功能，并将待测试芯片内部各个门电路的测试结果显示在人机接口模块的显示子模块上。
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