[实用新型]一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置有效

专利信息
申请号: 201520274306.6 申请日: 2015-04-30
公开(公告)号: CN204607060U 公开(公告)日: 2015-09-02
发明(设计)人: 黄孝彬;白冰;张文彪;吴国勋;钱相臣;胡永辉 申请(专利权)人: 华北电力大学;北京华清茵蓝科技有限公司
主分类号: B65G53/34 分类号: B65G53/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102206 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置,以解决测量过程中普遍存在的管道内微细颗粒污染光学探头,从而使光学测量方法不能得到广泛工业应用的问题。该光学探头防污装置包括基座(1)、光学探头(2)、探头壁(3)、管道(4)、压力表(5)和电动执行机构(6),其特征在于:所述探头壁(3)上设有进气孔(7),所述基座(1)内设有电动门(8),所述电动门(8)可在电动执行机构(6)的带动下在基座(1)内左右滑动。本实用新型所述的光学探头防污装置在带粉运行的情况下,仍可以灵活有效地对光学探头进行防污,使光学探头保持清洁,从而达到使气力输送粉体参数光学测量的工业应用成为可能的目的。
搜索关键词: 一种 用于 气力 输送 参数 测量 光学 探头 防污 装置
【主权项】:
一种用于气力输送粉体参数测量的光学探头防污装置,包括基座(1)、光学探头(2)、探头壁(3)、管道(4)、压力表(5)和电动执行机构(6),其特征在于:所述探头壁(3)上设有进气孔(7),所述基座(1)内设有电动门(8),所述电动门(8)可在电动执行机构(6)的带动下在基座(1)内左右滑动。
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