[实用新型]一种用于微量腐蚀性气体氛围下的薄液膜原位测试装置有效

专利信息
申请号: 201520200936.9 申请日: 2015-04-03
公开(公告)号: CN204613076U 公开(公告)日: 2015-09-02
发明(设计)人: 李晓刚;易盼;肖葵;董超芳;吴俊升;丁康康;王旭 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G01N17/02 分类号: G01N17/02
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 皋吉甫
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型属于材料腐蚀研究技术领域,特别是涉及一种可在单一或多组分微量气体下实时原位观测试样腐蚀宏观形貌以及薄液膜下的原位电化学的测试装置,所述测试装置包括反应室、微量腐蚀性气体给气系统、薄液膜腐蚀试验反应系统、原位电化学测试系统、原位形貌采集系统,在于提供一种用于微量腐蚀性气体氛围下的薄液膜原位测试装置,解决以往设备使用过程中费用昂贵、操作冗杂、装置精度低、气源单一、没有形貌和电化学原位观测相耦合的问题,实现一种结构简单、操作方便、多组分气源、形貌和电化学原位观测相耦合的高精度ppb级的微量腐蚀性气氛中薄液膜环境测试装置。
搜索关键词: 一种 用于 微量 腐蚀性 气体 氛围 薄液膜 原位 测试 装置
【主权项】:
一种用于微量腐蚀性气体氛围下的薄液膜原位测试装置,其特征在于,所述测试装置包括反应室、微量腐蚀性气体给气系统、薄液膜腐蚀试验反应系统、原位电化学测试系统、原位形貌采集系统;所述反应室外面包裹有不锈钢箱体,所述微量腐蚀性气体给气系统与薄液膜腐蚀试验反应系统连接在反应室上,所述原位电化学测试系统位于反应室内,所述原位形貌采集系统固定在反应室上。
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