[发明专利]测量方法有效

专利信息
申请号: 201511035913.8 申请日: 2015-11-12
公开(公告)号: CN105686793B 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: A·梅兹纳里奇;B·冯沃尔德克奇;C·施莱皮;C·左斯;E·林德利斯巴赫尔;J·布赖滕施泰因;K·巴尔策;L·罗夫莱多;P·斯泰尔德;S·基里亚坦 申请(专利权)人: 哈格-斯特莱特有限公司
主分类号: A61B3/10 分类号: A61B3/10;A61B5/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 蔡悦
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要: 一种用于记录体特别是眼睛上的测量点的测量方法,通过测量光束沿着待测体体的表面特别是待测体的曲目上的轨迹记录测量点,用于确定轴向长度轮廓。此处,轨迹的最小曲率半径至少为表面的圆周半径的1/7,优选的是至少为1/5,特别优选的是至少为1/3。
搜索关键词: 测量方法
【主权项】:
1.一种用于记录眼睛上的测量点的方法,其中通过测量光束沿着用于记录轴向长度轮廓的眼睛的表面上的轨迹记录多个测量点,其特征在于,所述轨迹的最小曲率半径为所述表面的圆周半径的至少1/7,所述轨迹在超过所述轨迹的50%的路径长度上具有小于所述表面的圆周半径的最大曲率半径。
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