[发明专利]一种对岩石密度和速度曲线调校的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201511032277.3 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN106932839B 公开(公告)日: 2019-01-18
发明(设计)人: 龙建东;刘海涛;王红军;李勇根;吴丰成;周海燕;王居峰;唐子军;张洪 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请实施例公开了一种对岩石密度和速度曲线调校的方法和装置,所述方法包括:基于井径曲线或电阻率曲线在相同深度段与第一属性曲线的相关性,结合对应的合成记录与井旁地震道信息的匹配结果,确定井径的扩径对第一属性曲线产生的扩径影响为第一影响,或者确定井径的扩径对第一属性曲线产生的扩径影响为第二影响;所述第一属性曲线包括:密度曲线和/或速度曲线;若为第一影响,采用与第一影响对应的第一调校方式对所述第一属性曲线进行调校;若为第二影响,采用与第二影响对应的第二调校方式对所述第一属性曲线进行调校。本申请实施例提供的对岩石密度和速度曲线调校的方法及装置,可以实现对岩石密度和速度曲线的较快速的调校。
搜索关键词: 一种 岩石 密度 速度 曲线 调校 方法 装置
【主权项】:
1.一种对岩石密度和速度曲线调校的方法,其特征在于,包括:基于井径曲线或电阻率曲线在相同深度段与第一属性曲线的相关性,结合对应的合成记录与井旁地震道信息的匹配结果,确定井径的扩径对第一属性曲线产生的扩径影响为第一影响,或者确定井径的扩径对第一属性曲线产生的扩径影响为第二影响;所述第一属性曲线包括:密度曲线和/或速度曲线;若为第一影响,采用与第一影响对应的第一调校方式对所述第一属性曲线进行调校;若为第二影响,采用与第二影响对应的第二调校方式对所述第一属性曲线进行调校;所述第一调校方式包括:根据所述第一属性曲线生成与所述第一属性曲线对应的低频趋势线;统计所述低频趋势线与第一属性曲线各波谷段数据的最大幅差,确定其中的最小值、最大值和均值,确定大于所述均值幅差的第二幅差均值;将所述最小值和所述最大值之间的差值根据预设步距划分为多个区间,根据第一预设规则确定待调校区间;根据第二预设规则对所述待调校区间的第一属性曲线进行调校;所述第二调校方式包括:获取与所述第一属性曲线对应的第二属性曲线,将所述第二属性曲线或取自然对数的第二属性曲线作为第一结果曲线;所述第二属性曲线包括:电阻率曲线或伽马曲线或井径曲线;当所述第二属性曲线为伽马曲线或井径曲线时,将所述第二属性曲线作为第一结果曲线;当所述第二属性曲线为电阻率曲线时,将取自然对数的电阻率曲线作为得到第一结果曲线;分别计算所述第一属性曲线和所述第一结果曲线对应的低频趋势线;根据所述第一结果曲线对应的低频趋势线与第二属性曲线的交点,确定第二属性曲线的各波峰段和各波谷段,计算所述各波峰段和各波谷段处对应的第一属性和第二属性的互相关值,并确定目标区域;统计所述目标区域内所述第一结果曲线或者旋转后的第一结果曲线与所述第一结果曲线对应的低频趋势线之间的幅差的第二均方值,以及所述目标区域内第一属性曲线与第一属性曲线对应的低频趋势线之间的幅差的第一均方值;其中,当所述第一结果曲线是取自然对数的电阻率曲线时,将所述目标区域对应的第一结果曲线沿第一结果曲线对应的低频趋势线进行镜像旋转;根据所述第一均方值和第二均方值,对所述第一属性曲线的目标区域进行调校。
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