[发明专利]一种调试方法、应用该方法的电子产品及调试卡在审
申请号: | 201511030473.7 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN105701011A | 公开(公告)日: | 2016-06-22 |
发明(设计)人: | 江晶亮;林锦麟;王大岁 | 申请(专利权)人: | 上海盈方微电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江高科*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种电子产品的调试方法,包括:S10判断电子产品是否处于正常使用状态;当电子产品处于正常使用状态时,复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通;S20当电子产品不处于正常使用状态时,判断电子产品是否处于调试状态;当电子产品处于调试状态时,复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通;S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口,调试所述电子产品。本发明能够减少集成电路引脚消耗和电子产品的芯片面积,并且调试工具对进行调试,不需要拆机和引测试信号线,能够针对一些低概率异常现象进行调试,效果更好。 | ||
搜索关键词: | 一种 调试 方法 应用 电子产品 | ||
【主权项】:
一种电子产品的调试方法,其特征在于,包括:S10判断电子产品是否处于正常使用状态;当电子产品处于正常使用状态时,复用选择器将I/O接口与存储控制器选择连通;S20当电子产品不处于正常使用状态时,判断电子产品是否处于调试状态;当电子产品处于调试状态时,复用选择器将I/O接口与调试控制器选择连通;S30通过与调试控制器选择连通的I/O接口,调试所述电子产品。
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