[发明专利]基于光强测量积分时间优化的线偏振度测量装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于光强测量积分时间优化的线偏振度测量装置，其特征在于，该装置包括激光光源(1)、四分之一波片(2)、线偏振片(3)、第一分光棱镜(4)、第一挡光板(5)、第二分光棱镜(6)、光强探测器件(7)、第一平面镜(8)、第二挡光板(9)和第二平面镜(10)；针对偏振测量系统中的待测DOLP值，获得积分时间和DOLP测量方差的函数关系，并通过优化DOLP测量方差函数，获得测量方差最小时的最优化积分时间，进而得到低方差、高精度的DOLP的测量值。与现有技术相比，本发明能在光强测量总积分时间不变的前提下，有效降低DOLP测量的方差，从而提高DOLP测量的精度，属于偏振测量领域；达到进一步提高DOLP的测量精度的目的。

主权项

一种基于光强测量积分时间优化的线偏振度测量装置，其特征在于，该装置包括激光光源(1)、四分之一波片(2)、线偏振片(3)、第一分光棱镜(4)、第一挡光板(5)、第二分光棱镜(6)、光强探测器件(7)、第一平面镜(8)、第二挡光板(9)和第二平面镜(10)；其中：激光光源(1)发出的光经过四分之一波片(2)和线偏振片(3)入射到第一分光棱镜(4)，分成偏振态分别与线偏振片角度平行和垂直的两束光，其中平行光束经第一分光棱镜(4)、第二分光棱镜(6)后进入光强探测器件(7)，另一束垂直光束经第一分光棱镜(4)、第一平面镜(8)、第二平面镜(10)、第二分光棱镜(6)反射后进入光强探测器件(7)；通过调节第一挡光板(5)、第二挡光板(9)分别获得正交偏振态下的两次光强测量；通过调节装置中的线偏振片(3)的角度实现任意DOLP的线偏光；通过调节光强探测器件(7)的积分时间实现两次测量的积分时间分配。