[发明专利]一种复杂电子系统剩余寿命预测方法

摘要

本发明提供了一种复杂电子系统剩余寿命预测方法，采用节点的关联重要度描述与该节点直接相连的节点个数，采用位置重要度描述网络中节点在网络拓扑中的位置，采用失效率重要度描述网络中节点自身发生失效的可能性大小，累加得到节点的综合重要度，选取重要度排序中的前n个元器件作为剩余寿命关键元器件，建立n个关键元器件的失效物理模型，计算被选择的各个关键器件的剩余寿命，以最少剩余寿命作为复杂电子系统的剩余寿命。本发明以若干关键元器件的剩余寿命来表征系统的使用状态，达到对整个电子系统进行剩余寿命预测的目的，有效地实现了板级电子系统和整个系统的剩余寿命预测。

主权项

1.一种复杂电子系统剩余寿命预测方法，其特征在于包括下述步骤：(1)建立由复杂电子系统组成元器件构成的网络模型，每个元器件成为网络的一个节点；采用节点的关联重要度描述与该节点直接相连的节点个数，节点的关联重要度式中，C_d(v_i)＝d(v_i)为节点v_i的度，d(v_i)是与节点v_i直接相连的节点个数，n为网络节点的总数；(2)采用位置重要度描述网络中节点在网络拓扑中的位置，节点的位置重要度式中，为节点v_i的紧密度，v_ij为节点v_j到节点v_i的距离；(3)采用失效率重要度描述网络中节点自身发生失效的可能性大小，节点的失效率重要度式中，λ(v_i)为节点v_i的失效率；(4)计算节点vi的综合重要度K(vi)＝CD(vi)+CC(vi)+CP(vi)；(5)选取重要度排序中的前n个元器件作为剩余寿命关键元器件，n由用户设定；(6)采用失效模式影响及危害性分析与基于故障树的仿真相结合的方法，分析n个关键元器件的失效模式及其失效机理，建立n个关键元器件的失效物理模型；(7)利用失效物理模型，计算被选择的各个关键器件的剩余寿命，以最少剩余寿命作为复杂电子系统的剩余寿命。