[发明专利]一种基于有源区材料的光学天线太赫兹探测器有效

专利信息
申请号: 201511018027.4 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN105449030B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 张佳辰;张铁;吴福伟 申请(专利权)人: 南京大学
主分类号: H01L31/112 分类号: H01L31/112;H01L31/02
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈建和
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种基于有源区材料的光学天线太赫兹探测器,光学天线与晶体管栅极采用同一层多晶硅材料,厚度为100~300nm;光学天线分别置于晶体管的源极和漏极两端,天线边缘距离晶体管栅极边缘间距为100~500nm,光学天线与晶体管源端、漏端和栅端通过标准半导体工艺中填充氧化物隔开;光学天线采用偶极子天线或领结形天线结构,多晶硅材料的掺杂浓度为1017~1020原子/每立方厘米;天线厚度与晶体管源漏端厚度相同,将天线分别与源漏连成一整体。
搜索关键词: 一种 基于 有源 材料 光学 天线 赫兹 探测器
【主权项】:
1.一种基于有源区材料的光学天线太赫兹探测器,其特征是光学天线与晶体管栅极采用同一层多晶硅材料,厚度为100~300nm,掺杂通过单独工艺实现;光学天线分别置于晶体管的源极和漏极两端,天线边缘距离晶体管栅极边缘间距为100~500nm,光学天线与晶体管源端、漏端和栅端通过标准半导体工艺中填充氧化物隔开;光学天线采用偶极子天线或领结形天线结构,多晶硅材料的掺杂浓度为1017~1020原子/每立方厘米;天线厚度与晶体管源漏端厚度相同,将天线分别与源漏连成一整体;所述光学天线的太赫兹探测器工作方案为,在晶体管栅极上加上直流偏置电压,源极接地,漏极浮空,信号电压从漏极输出;对频率为650GHz的太赫兹源信号的电压响应时,光学天线的参数分别为: D=20微米、L=68微米、 W=1微米、θ=120度、掺杂浓度为1020原子/每立方厘米;光学天线长度D,宽度W;半径L,张角角度为θ。
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