[发明专利]硅基异质结SIS结构太阳电池的制备方法在审

专利信息
申请号: 201511005854.X 申请日: 2015-12-29
公开(公告)号: CN105449041A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 马忠权;杜汇伟;杨洁 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/06
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 顾勇华
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种硅基异质结SIS结构太阳电池的制备方法,用n-型电导、晶向为(100)、电阻率为1.0~2.0Ω·cm、厚度为130~180μm的硅单晶片为衬底,经化学清洗及制绒后,利用磁控溅射工艺制备ITO薄膜,在磁控溅射过程中,ITO靶材中的O离子在偏压加速下,注入硅表面,产生固相反应,在硅表层纳米尺度范围形成超薄SiOx薄膜,再利用热蒸发和掩膜技术,在ITO薄膜材料上制备Ag/Al栅电极,在硅衬底背面沉积Al电极,得到太阳电池片。本发明结合磁控溅射沉积ITO工艺、离子浅注入混合方法和热蒸发金属电极工艺制备方法,制备了SIS结构太阳电池片,具有较好的稳定性能和较高的光电转换效率。
搜索关键词: 硅基异质结 sis 结构 太阳电池 制备 方法
【主权项】:
一种硅基异质结SIS结构太阳电池的制备方法,其特征在于,步骤如下:a. 采用n‑型导电、晶向为(100)、电阻率为1.0~2.0Ω·cm且厚度为130~180 μm的硅单晶片为衬底;b. 将在所述步骤a中选取的硅单晶片经化学清洗及表面制绒后,利用射频磁控溅射工艺在硅单晶片的正面上制备厚度为80~150 nm的ITO薄膜,形成透明半导体层;c. 在所述步骤b磁控溅射工艺过程中,同时在靶材上施加电位为600~800 V的负偏压,使ITO靶材中的O离子在偏压加速下注入硅单晶片表面,在ITO薄膜和硅单晶片的界面处,将O离子注入硅单晶片的Si基体表层,使O离子与硅单晶片的浅层硅原子发生固相反应形成超薄SiOx层,从而在ITO薄膜和硅单晶片之间形成超薄SiOx薄膜,形成超薄绝缘层;d. 在所述步骤b溅射结束后,再利用热蒸发或掩膜方法,在ITO薄膜上制备图案化的Ag/Al栅电极作为前电极,在硅单晶片的背面上沉积制备Al电极作为背电极,从而最终制成具有ITO/SiOx/n‑Si层状结构的硅基异质结SIS结构太阳电池片。
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