[发明专利]硅基异质结SIS结构太阳电池的制备方法在审
申请号: | 201511005854.X | 申请日: | 2015-12-29 |
公开(公告)号: | CN105449041A | 公开(公告)日: | 2016-03-30 |
发明(设计)人: | 马忠权;杜汇伟;杨洁 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/06 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 顾勇华 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅基异质结SIS结构太阳电池的制备方法,用n-型电导、晶向为(100)、电阻率为1.0~2.0Ω·cm、厚度为130~180μm的硅单晶片为衬底,经化学清洗及制绒后,利用磁控溅射工艺制备ITO薄膜,在磁控溅射过程中,ITO靶材中的O离子在偏压加速下,注入硅表面,产生固相反应,在硅表层纳米尺度范围形成超薄SiOx薄膜,再利用热蒸发和掩膜技术,在ITO薄膜材料上制备Ag/Al栅电极,在硅衬底背面沉积Al电极,得到太阳电池片。本发明结合磁控溅射沉积ITO工艺、离子浅注入混合方法和热蒸发金属电极工艺制备方法,制备了SIS结构太阳电池片,具有较好的稳定性能和较高的光电转换效率。 | ||
搜索关键词: | 硅基异质结 sis 结构 太阳电池 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种硅基异质结SIS结构太阳电池的制备方法,其特征在于,步骤如下:a. 采用n‑型导电、晶向为(100)、电阻率为1.0~2.0Ω·cm且厚度为130~180 μm的硅单晶片为衬底;b. 将在所述步骤a中选取的硅单晶片经化学清洗及表面制绒后,利用射频磁控溅射工艺在硅单晶片的正面上制备厚度为80~150 nm的ITO薄膜,形成透明半导体层;c. 在所述步骤b磁控溅射工艺过程中,同时在靶材上施加电位为600~800 V的负偏压,使ITO靶材中的O离子在偏压加速下注入硅单晶片表面,在ITO薄膜和硅单晶片的界面处,将O离子注入硅单晶片的Si基体表层,使O离子与硅单晶片的浅层硅原子发生固相反应形成超薄SiOx层,从而在ITO薄膜和硅单晶片之间形成超薄SiOx薄膜,形成超薄绝缘层;d. 在所述步骤b溅射结束后,再利用热蒸发或掩膜方法,在ITO薄膜上制备图案化的Ag/Al栅电极作为前电极,在硅单晶片的背面上沉积制备Al电极作为背电极,从而最终制成具有ITO/SiOx/n‑Si层状结构的硅基异质结SIS结构太阳电池片。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
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