[发明专利]一种卷径测量装置

摘要

本发明所公开了一种卷径测量装置，设置有支撑架，支撑架具有两个直接与料卷接触的支撑部位。料卷的最低处位于两个支撑部位之间，因此料卷的最低处的水平位置低于支撑部位与料卷接触的位置，支撑架的两个支撑部位与料卷的接触部位与料卷的最低处形成一个三角形。在支撑架的两个支撑部位之间设置有托架，托架由底部设置的弹性件提供向上的支撑力；托架能够与料卷的最低点接触，并且托架能够在料卷的压力下向下移动。当在支撑架上放置了料卷后能够使托架向下竖直位移，当托架移动时能够被测量器测量，得到最低处的位置数据，然后得到料卷的最低点与支撑架两个支撑部位之间形成的三角形数据，从而可以由几何关系换算得到料卷外径的尺寸。

主权项

1.一种卷径测量装置，其特征在于，包括：用于支撑料卷的支撑架(1)，所述支撑架(1)具有两个直接与料卷接触的支撑部位；位于所述支撑架(1)的两个支撑部位之间、能够与料卷的最低点接触的托架(2)，所述托架(2)的底部设置弹性件，所述托架(2)能够在料卷的压力作用下竖直下移；用于测量所述托架(2)竖直位移的测量器(3)，所述测量器(3)能够得到料卷的最低点与所述支撑架(1)的两个支撑部位之间的三角关系；所述测量器(3)包括：固定于所述托架(2)上的测量齿条(31)；与所述测量齿条(31)配合、啮合转动的测量齿轮(32)，所述测量齿轮(32)的转动由绝对值编码器(33)检测，并由PLC根据三角几何关系得出料卷的外径；所述弹性件为设置于所述托架(2)底部中央的弹簧，所述弹簧能够沿限位柱伸缩；所述弹簧的两侧分别设置有用于限定所述托架(2)竖直位移轨迹的托架导柱(21)。