[发明专利]一种红外小光点光束特性测量装置及测量方法有效
申请号: | 201510979500.9 | 申请日: | 2015-12-24 |
公开(公告)号: | CN105547171B | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 应承平;王恒飞;刘红元;王洪超;吴斌;李国超;姜斌;霍明明;张睿;杨延召 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01B11/08 | 分类号: | G01B11/08 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 孙营营 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出了一种红外小光点光束特性测量装置,将红外成像器件固定在精密三维电控位移台上,通过三维位移台将红外成像器件光敏面调整到小光点的焦面上,控制位移台带动红外成像器件相对小光点进行扫描,记录正好横穿小光点某像元的输出电压,并绘出此像元信号输出和扫描位移对应关系曲线,由曲线求出红外小光点的光斑直径;进行另一垂直方向上的扫描,求得垂直方向上的光斑直径;根据两方向上的扫描曲线,绘出小光点光斑质量图形。本发明采用红外成像器件扫描法实现对红外小光点光斑直径的准确测量;对红外小光点扫描曲线的拟合模型采用二次和四次方函数混合拟合模型,克服了普通拟合方法在曲线顶部或底部存在较大偏差的缺陷,提高了拟合精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外 小光点 光束 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种红外小光点光束特性测量装置,其特征在于,将红外成像器件固定在精密三维电控位移台上,通过精密三维电控位移台将红外成像器件光敏面调整到小光点的焦面上,控制位移台带动红外成像器件相对小光点进行扫描,记录正好横穿小光点某像元的输出电压,并绘出此像元信号输出和扫描位移对应关系曲线,由曲线求出红外小光点的光斑直径;进行另一垂直方向上的扫描,求得垂直方向上的光斑直径;根据两方向上的扫描曲线,绘出小光点光斑质量图形。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十一研究所,未经中国电子科技集团公司第四十一研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510979500.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。