[发明专利]一种精确测量光源平行性的方法及装置

摘要

一种精确测量光源平行性的方法及装置，属于光电测量领域，为了解决现有技术无法实现光源平行性的精确测量问题，第一步，将待测光源放置标准光栅的上方，将标准光栅固定件的上面，光电探测器固定在固定件底部，且待测光源、标准光栅和光电探测器同轴设置，光电探测器与信号处理模块连接，示波器及电脑分别与信号处理模块相连；第二步，待测光源发出的光先入射到标准光栅，再入射光电探测器上，光电探测器将所得到的光信号转化为电信号，通过信号处理模块的处理，信号输入到示波器及电脑中；第三步，电脑根据示波器的波形图计算待测光源的平行性参数；该测量装置测量精度高，数据直观可靠。

主权项

1.一种精确测量光源平行性的方法，其特征是，该方法包括以下步骤：第一步，将待测光源(1)放置标准光栅(2)的上方，将标准光栅(2)固定在固定件(4)的上面，光电探测器(3)固定在固定件(4)底部，且待测光源(1)、标准光栅(2)和光电探测器(3)同轴设置，光电探测器(3)与信号处理模块(5)连接，示波器(6)及电脑(7)分别与信号处理模块(5)相连；第二步，待测光源(1)发出的光先入射到标准光栅(2)，再入射光电探测器(3)上，光电探测器(3)将所得到的光信号转化为电信号，通过信号处理模块(5)的处理，信号输入到示波器(6)及电脑(7)中；第三步，电脑(7)根据示波器(6)的波形图计算待测光源(1)的平行性参数；所述第三步的具体算法是，在示波器(6)的波形图中取若干个整数周期m个，读出对应的响应时间T，若CCD每个像元大小为L，每个像元的响应时间为t，则可根据计算出CCD上得到的光栅单个周期宽度的投影大小X，与所使用的光栅的真实周期宽度X₀进行比较，如果X>X₀，则待测光源为发散光，如果X<X₀，则待测光源为会聚光。