[发明专利]阵列基板的ESD检测方法有效
| 申请号： | 201510943309.9 | 申请日： | 2015-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN105575300B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 李亚锋;彭香艺 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种阵列基板的ESD检测方法，通过在阵列基板的第一金属层上引出第一导线并连接至第一测试位点；在阵列基板的第二金属层上引出第二导线并连接至第二测试位点；当阵列基板发生ESD故障时，通过电阻检测装置测量所述第一测试位点与第二测试位点之间的电阻值；若所述第一测试位点与第二测试位点之间的电阻值为正无穷，则所述第一金属层与第二金属层之间未发生ESD；若所述第一测试位点与第二测试位点之间的电阻值在可测范围内，则所述第一金属层与第二金属层之间发生ESD；从而根据所测量的第一测试位点与第二测试位点之间的电阻值检测出阵列基板上发生ESD的位置；可快速准确地检测出阵列基板上发生ESD的位置，省时省力，同时可以节省检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 esd 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板的ESD检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、提供待进行ESD检测的阵列基板，所述阵列基板上设有第一金属层(11)与第二金属层(12)，所述第一金属层(11)通过第一导线(21)连接至阵列基板表面的第一测试位点(31)，所述第二金属层(12)通过第二导线(22)连接至阵列基板表面的第二测试位点(32)；步骤2、提供电阻检测装置，通过所述电阻检测装置测量所述第一测试位点(31)与第二测试位点(32)之间的电阻值；若所述第一测试位点(31)与第二测试位点(32)之间的电阻值为正无穷，则所述第一金属层(11)与第二金属层(12)之间未发生ESD；若所述第一测试位点(31)与第二测试位点(32)之间的电阻值在可测范围内，则所述第一金属层(11)与第二金属层(12)之间发生ESD；从而根据所测量的第一测试位点(31)与第二测试位点(32)之间的电阻值检测出阵列基板上发生ESD的位置。
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