[发明专利]对于每个位电容器具有专用参考电容器的SAR DAC有效
| 申请号： | 201510940534.7 | 申请日： | 2015-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN105720980B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | M·D·马多克斯;R·A·卡普斯塔;沈军华 | 申请（专利权）人： | 美国亚德诺半导体公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 袁玥 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本申请涉及对于每个位电容器具有专用参考电容器的逐次逼近寄存器模数转换器(SAR ADC)。SAR ADC常规地包括用于实现将模拟输入逐位转换为数字输出的位测试的电路。用于位测试的电路通常加权(例如，二进制加权)，而这些位加权并不总是很理想。校准算法可以校准或校正非理想的位加权并通常优选这些位加权为信号独立的，使得可以易于测量和校准/校正位加权。本文所公开的实施例涉及SAR ADC的独特的电路设计，其中每个位电容器或一对位电容器(具有差分设计)具有相应的专用片上基准电容器。由于片上参考电容(提供快速参考建立时间)，得到ADC的速度较快，并同时与SAR ADC的非理想位加权相关的错误是信号独立的(可以易于测量和校正/校准)。 | ||
| 搜索关键词： | 对于 个位 电容器 具有 专用 参考 sar dac | ||
【主权项】：
1.一种用于使用信号独立位权重将模拟输入转换为数字输出的逐次逼近寄存器模数转换器SAR ADC，所述SAR ADC包括：/n对应于多个位测试的多个电容式数模转换器DAC单元，其中每个电容式DAC单元包括：/n对应于特定位权重的一个或多个位电容器，用于直接采样模拟输入并产生电容式DAC单元的输出，其中每个位电容器具有第一板和第二板；以及/n片上参考电容器，所述片上参考电容器专用于并且直接连接或交叉连接到对应于特定位权重的一个或多个位电容器，用于从参考电压牵拉电荷，并和一个或多个位电容器共享电荷；/n耦合到所述电容式DAC单元的输出的比较器，用于为每个位测试产生确定输出；和/n耦合到所述比较器的输出的逐次逼近寄存器SAR逻辑单元，用于基于所述确定输出控制所述电容式DAC单元中的开关，并产生表示所述模拟输入的数字输出，/n其中，所述一个或多个位电容器的第一板被差分短路以稳定于共模电压，以在采样阶段之后和转换阶段之前，将在所述一个或多个位电容器中的采样输入信号转换到所述一个或多个位电容器的第二板。/n
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